CSK-IB超聲波無(wú)損檢測(cè)對(duì)比試塊GB/T11345-2013標(biāo)準(zhǔn)

水平線(xiàn)性又稱(chēng)時(shí)基線(xiàn)性，或掃描線(xiàn)性。是指輸入到超聲檢測(cè)儀中的不同回波的時(shí)間間隔與超聲檢測(cè)儀顯示屏?xí)r基線(xiàn)上回波的間隔成正比關(guān)系的程度。水平線(xiàn)性影響缺陷位置確定的準(zhǔn)確度。水平線(xiàn)性的測(cè)試可利用任何表面光滑、厚度適當(dāng)，并具有兩個(gè)相互平行的大平面的試塊，用縱波直探頭獲得多次回波，并將規(guī)定次數(shù)的兩個(gè)回波調(diào)整到與兩端的規(guī)定刻度線(xiàn)對(duì)齊，之后，觀(guān)察其他的反射回波位置與水平刻度線(xiàn)相重合的情況。其測(cè)試步驟如下：

1）將直探頭置于CSK-ⅠA試塊上，對(duì)準(zhǔn)25mm厚的大平底面，如圖a所示

2）調(diào)整微調(diào)、水平或脈沖移位等旋鈕，使示波屏上出現(xiàn)五次底波B1到B5，且使B1對(duì)準(zhǔn)2.0，B5對(duì)準(zhǔn)10.0，如圖b所示

3）觀(guān)察和記錄B2、B3、B4與水平刻度值4.0、6.0、8.0的偏差值a2、a3、a4。

CSK-IB試塊再原有的CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測(cè)試斜探頭折射角的刻度面。

CSK-IB超聲波無(wú)損檢測(cè)對(duì)比試塊使用要點(diǎn)：

1、利用半徑R100mm曲面測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度

2、利用Φ50和1.5mm圓孔測(cè)定斜探頭的折射角

3、利用試塊直角邊測(cè)定斜探頭聲束軸線(xiàn)的偏離情況

4、利用25mm厚度測(cè)定探傷儀水平線(xiàn)、垂直線(xiàn)和動(dòng)態(tài)范圍

5、利用25mm厚度調(diào)整縱波探測(cè)范圍和掃描速度

6、利用R50和R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測(cè)范圍和掃苗速度

7、利用Φ50、Φ44和Φ40mm三個(gè)臺(tái)階孔測(cè)定斜探頭分辨力。

CSK-IB試塊再原有的CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測(cè)試斜探頭折射角的刻度面。

超聲波無(wú)損檢測(cè)對(duì)比試塊GB/T11345-2013標(biāo)準(zhǔn)